关于频率分辨率的2种解释

解释一:

频率分辨率可以理解为在使用DFT时,在频率轴上的所能得到的最小频率间隔

分辨率和采样率(采样频率和频率分辨率)(1)

其中N为采样点数,fs为采样频率,Ts为采样间隔。所以NTs就是采样前模拟信号的时间长度T,信号长度越长,频率分辨率越好。

是不是采样点数越多,频率分辨力提高了呢?其实不是的,因为一段数据拿来就确定了时间T,注意:f0=1/T,而T=NTs,增加N必然减小Ts,因此,增加Nf0是不变的。只有增加点数的同时导致增加了数据长度T才能使分辨率越好。

还有容易搞混的一点,我们在做DFT时,常常在有效数据后面补零达到对频谱做某种改善的目的,我们常常认为这是增加了N,从而使频率分辨率变好了,其实不是这样的,补零并没有增加有效数据的长度,仍然为T

但是补零其实有其他好处:

那么选择DFT时N参数要注意:

解释二:

频率分辨率也可以理解为某一个算法(比如功率谱估计方法),将原信号中的两个靠得很近的谱峰依然能保持分开的能力。这是用来比较和检验不同算法性能好坏的指标。在信号系统中我们知道,宽度为N的矩形脉冲,它的频域图形为sinc函数,两个一阶零点之间的宽度为4π/N。由于时域信号的截短相当于时域信号乘了一个矩形窗函数,那么该信号的频域就等同卷积了一个sinc函数,也就是频域受到sinc函数的调制了,根据卷积的性质,因此两个信号圆周频率之差W0必须大于4π/N。从这里可以知道,如果增加数据点数N,即增加数据长度,也可以使频率分辨率变好,这一点与第一种解释是一样的。同时,考虑到窗函数截短数据的影响存在,当然窗函数的特性也要考虑,在频率做卷积,如果窗函数的频谱是个冲击函数最好了,那不就是相当于没截断吗?可是那不可能的。

我们考虑窗函数主要是以下几点:

在此,总结几种很常用的窗函数的优缺点:

可以看出,矩形窗有最窄的主瓣,但是旁瓣泄露严重。汉宁窗和海明窗虽主瓣较宽,但是旁瓣泄露少,是常选用的窗函数。

采样周期与频率分辨率

fs/N常称作为频率分辨率,它实际是作FFT时谱图中的两条相邻谱线之间的频率间隔,也有称作步长。单位是Hz、Khz等。频率分辨率实际有二重含义,在这里只是其中一种。

1/fs的单位的s、ms、us或分、时...年等。1/fs代表采样周期,是时间域上两个相邻离散数据之间的时间差。因此fs/N用在频率域,只在DFT以后的谱图中使用;而1/fs用时间域,只要数据经采样,离散化后任何其它的应用中都可使用。例如有的数字滤波器中就用到。

分辨率和采样率(采样频率和频率分辨率)(2)

其中Δf是频率采样间隔,同时也是频率分辨率的重要指标,如果这个值越小,则频率分辨率越高。

1/fs往往用在求时间序列上,如 (0:N-1)*1/fs等等,如果这个不好理解,可以把前面的公式求倒数,这就清楚多了。

采样定理

采样过程所应遵循的规律,又称取样定理、抽样定理。采样定理说明采样频率与信号频谱之间的关系,是连续信号离散化的基本依据。采样定理是1928年由美国电信工程师H.奈奎斯特首先提出来的,因此称为奈奎斯特采样定理。1933年由苏联工程师科捷利尼科夫首次用公式严格地表述这一定理,因此在苏联文献中称为科捷利尼科夫采样定理。1948年信息论的创始人C.E.香农对这一定理加以明确地说明并正式作为定理引用,因此在许多文献中又称为香农采样定理。采样定理有许多表述形式,但最基本的表述方式是时域采样定理和频域采样定理。采样定理在数字式遥测系统、时分制遥测系统、信息处理、数字通信和采样控制理论等领域得到广泛的应用。

时域采样定理

频带为F的连续信号f(t)可用一系列离散的采样值f(t1),f(tΔt),f(t1±2Δt),...来表示,只要这些采样点的时间间隔Δt≤1/2F,便可根据各采样值完全恢复原来的信号f(t)。

分辨率和采样率(采样频率和频率分辨率)(3)

模拟信号采样示意图

时域采样定理的另一种表述方式是:当时间信号函数f(t)的最高频率分量为fM时,f(t)的值可由一系列采样间隔小于或等于1/2fM的采样值来确定,即采样点的重复频率f≥2fM。时域采样定理是采样误差理论、随机变量采样理论和多变量采样理论的基础。

频域采样定理

对于时间上受限制的连续信号f(t)(即当│t│>T时,f(t)=0。这里T=T2-T1是信号的持续时间),若其频谱为F(ω),则可在频域上用一系列离散的采样值用下式表示

分辨率和采样率(采样频率和频率分辨率)(4)

只要这些采样点的频率间隔

分辨率和采样率(采样频率和频率分辨率)(5)

分析频率、采样点数、谱线数的设置要点

最高分析频率,Fm指需要分析的最高频率,也是经过抗混滤波后的信号最高频率。根据采样定理,Fm与采样频率Fs之间的关系一般为:

分辨率和采样率(采样频率和频率分辨率)(6)

而最高分析频率的选取,决定于设备转速和预期所要判定的故障性质。

采样点数N与谱线数M有如下的关系:

N=2.56M,其中谱线数M与频率分辨率ΔF及最高分析频率Fm有如下的关系:

分辨率和采样率(采样频率和频率分辨率)(7)

即:

分辨率和采样率(采样频率和频率分辨率)(8)

所以:

分辨率和采样率(采样频率和频率分辨率)(9)

采样点数的多少与要求多大的频率分辨率有关。例如:机器转速3000r/min=50Hz,如果要分析的故障频率估计在8倍频以下,要求谱图上频率分辨率ΔF=1Hz,则采样频率和采样点数设置为:

内容转载自网络,仅供学习交流使用,如有侵权,请联系删除。如果你还想了解更多关于电子元器件的相关知识及电子元器件行业实时市场信息,敬请关注微信公众号 【上海衡丽贸易有限公司】

,