过压检测是电路设计常见的一种保护放法，不同的方案应用于不同的环境，但是他们的目的都是为了防止电压过大时，引起电路功能智障，避免产品报废[笑哭][笑哭]。在以往的设计中，本人亲自用过这几种过压检测电路方案，现在简单介绍下给各位粉条。[中国赞][中国赞]
1、三极管方案
当输入电压VIN大于Vz时D19稳压二极管反向导通，且输入电压大于Vz 07V时，NPN三极管导通，IO_IN由高电平变为低电平。用MCU的GPIO中断可以方便检测。（D19为稳压二极管）
2、光耦方案
利用光藕来做隔离检测，D1 为稳压二二极管，当输入电压VIN大于(VZ VF) 时，光耦导通，VF为光耦原边发光二极管导通压降，I0_ IN 由高电平变为低电平,用MCU的GPIO中断可方便的实现隔离检测。
3、比较器方案
运用比较器，过压检测点可以通过R5、R7来设置；输入电压VIN经电阻R11与R12分压之后再做比较，I0_ IN由低电平变为高电平时，用MCU的GPIO中断可以方便实现检测。
学习在于坚持，知识源于共享。[中国赞][中国赞]
欢迎转发＋关注。[来看我][来看我]
在你设计过程中还有哪些保护设计，欢迎评论区摆龙门阵[机智][机智]
,
