半导体器件引脚的镀金方式（半导体分立器件的恒加速度试验）

编辑 | 环仪仪器工程技术部

半导体分立器件的恒加速度试验，是为了确定离心力对器件的影响。恒定加速度试验是一种加速试验，以检验在冲击和振动试验中不一定能检查出来的结构和机械上的缺陷。

下面，环仪小编带大家认识一下半导体分立器件的恒定加速度试验。

试验样品：按照标准要求中的半导体分立器件

试验设备：转臂式恒加速度离心机

设备型号：HYZB系列

设备厂家：环仪仪器

应通过外壳或正常安装把器件固定住，引线或电缆应适当保护，然后对器件在X1、X2、Y1、Y2、Z1和Z2各方向上加规定的离心加速度1min。

加速度逐渐增加到规定值的时间不少于20s，加速度逐渐减到零的时间不少于20s。

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a.所加离心加速度大小，以(m/s²)为单位;

b.试验后所进行的测试。

以上就是半导体分立器件需要做的恒加速度试验，如对此有疑问的，可以访问“环仪仪器”官网，咨询相关技术人员，做进一步的了解，或者私信小编。