随着闪存价格的下降，很多朋友买到了廉价固态硬盘，但是在使用过程中却发现种种不如意的现象，首当其冲的就是人们常说的“掉速”。
固态硬盘掉速有很多类，由于SLC缓存用尽而出现的写入速度下滑是一切TLC闪存固态硬盘的共同特点，通常不会被认为是BUG。除此之外，掉速主要是硬盘空间使用率增长之后整体读写能力下降，牵涉到主控能力、固件算法以及闪存体质等因素。
而这种情况是无法通过AS SSD Benchmark这类“快餐测试”软件检测到的。包括10GB测试在内，都不能发现潜在的掉速问题：因为它们测试的都是SLC缓存范围内的新数据读写。
正确有效的测试方法是先利用不可压缩的随机数据填充至少一半的盘内空间。本例中使用IOMeter在东芝RC500 500GB固态硬盘内生成了256GB的文件：
此时RC500盘内已经被文件占用的空间超过55%，基本能够体现系统盘日常使用条件。
接下来进行PCMark 8存储性能测试。该测试使用记录-回放式原理，按照1：1完整再现各种类型应用对硬盘读写活动，从而衡量硬盘性能对整机效率的影响。
然后对照RC500在空盘条件下的PCMark 8存储测试成绩，可以发现无论是空盘还是过半盘使用的情况下，RC500都保持了一致的性能水准，没有发生掉速。
在高规格主控、高性能闪存以及优秀固件算法的情况下，掉速是完全可以避免的。
一些廉价固态硬盘之所以容易掉速，一方面本身性能不佳，过度使用SLC算法压榨跑分有关；另一方面是其使用的闪存体质往往不佳，固件垃圾回收策略相对更保守，只能保障空盘下的跑分，而放任高空间使用率下的掉速。尽管这种掉速比较隐蔽，但依然可以通过今天介绍的方法让其现出原形。
