有源晶体振荡器和无源晶体振荡器统称为晶体振荡器，属于同一电子元件，但有源晶体振荡器和无源晶体振荡器在各方面存在较大差异。首先，形状不同。有源晶体振荡器有凹槽，通常没有无源晶体。前者可以在没有外部电源的情况下振荡，而后者则不能。此外，还有一套测量方法来检测有源晶体振动是好是坏，主要包括测量电阻法、测量电容量法和测试电路。
晶体振动通常分为两种类型：无源晶体振动和有源晶体振动。无源晶体振动通常被称为crystal(晶体)，而有源晶体振动称为oscillator(振荡器)。
有源晶振测试-来源于网络-图侵删
有源晶体振荡器是一种完整的谐振振荡器，利用石英晶体的压电效应，因此有源晶体振荡器需要电源。当我们完成有源晶体振荡器电路时，它可以主动产生振荡频率，并提供高精度的频率基准。信号质量优于无源信号。
无源晶体振荡本身不能振荡。它需要芯片中的振荡电路一起工作。它允许不同的电压，但信号质量和精度比有源晶体振荡差。无源晶振比有源晶振便宜得多。无源晶体振动的两侧通常有两个电容，一般选择10个电容pF~40pF之间，如果手册中有特定电容尺寸的要求，则应根据要求选择电容。如果没有要求，我们将使用20pF是比较好的选择，这是一个长期的经验值，具有非常普遍的适用性。
有源晶振通常有四个引脚，VCC，GND，晶振输出引脚和未使用的悬挂引脚。无源晶体振动有两个或三个引脚，如果是三个引脚，中间引脚是晶体振动的外壳，使用时接收到GND，两侧的引脚是晶体的两个引脚，两个引脚的作用是相同的，就像电阻的两个引脚一样，没有正负之分。对于无源晶体振动，我们可以在单片机上连接两个晶体振动引脚，而有源晶体振动只连接到单片机晶体振动的输入引脚，不需要连接输出引脚。
3225晶振测试-来源于网络-图侵删
电路匹配：
振荡电路是一种振荡电流，可以随周期产生大小和方向的变化。振荡电流电路称为振荡电路。
激励电平：
调整电路中的串联电阻Rd调整振荡电路对晶体振荡输出的激励电平。
负阻抗过大，增加Rd，增加电路的整体阻抗；负阻抗太小，降低Rd，使整个电路阻抗变小。在晶片中应控制负阻抗ESR3~20倍之间。
焊接：
由于焊接温度过高或时间过长，晶体振动内部电气性能指标异常，导致无振动。晶振分为手工焊接和机器焊接(波峰焊和回流焊)。手工焊接温度控制在350℃/3s或者260℃/5s。
其他因素：
通过交叉试验，可以判断晶体是否损坏。如果是个别损坏，应考虑IC驱动功率是否设置好；如果是批量损坏，应考虑驱动功率是否过大。若在电路调试阶段发现少量晶体无振动现象，则可能存在晶体批次质量问题。如果晶体质量有问题，建议交给供应商进行质量分析。
从晶体振荡器测量的角度来看，该计算方法不适用于非线性晶体振荡器的测试，因为测量程度取决于晶体振荡器的特性，而且差异很大。如果有其他适用的测试方法，则应放弃该方法.晶振是一种频率元件，顾名思义，我们可以想象频率是其中的主导因素.作为一名频率元件推销员，有时会遇到一些客户不知道需要什么频率，或者不知道频率是多少.
晶体振动还有一个问题，那就是测试。电路设计好之后，如何测试晶振电路是否满足设计要求呢？
在鸿怡电子测试座的实际应用中，结合实际情况，具体来说，晶体本身的原因是：晶体碎片、寄生、DLD阻抗过大，频率不好，晶体牵引力不足或过大。
晶振测试座该如何选择呢？晶振测试座 - 鸿怡电子官网（小编整理了市场上比较受欢迎的5款，仅供参考）
1、2546光耦晶振测试座socket
PIN脚：4pin
引脚间距：1.27mm
尺寸：2.5×4.6mm
2、2520贴片晶振探针老化测试座socket
PIN脚：4pin
尺寸：2.5×2.0mm
3、3225晶振翻盖探针频率socket测试座
PIN脚：4pin
尺寸：3.2×2.5mm
4、5032晶振探针老化测试座socket
PIN脚：4pin
尺寸：5.0×3.2mm
5、7050贴片晶振探针老化socket测试座
PIN脚：4pin
尺寸：7.0×5.0mm
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